Кандидат фізико-математичних наук, асистент кафедри прикладних інформаційних систем.
Вища освіта:
Донецький національний університет. Математик-статистик, аналітик банківської та страхової справи.
Захищені дисертації:
- Кандидатська дисертація: «Сингулярні розподіли ймовірностей, пов’язані з представленнями чисел знакододатними рядами Люрота» за спеціальністю 01.01.05 – «Теорія ймовірностей і математична статистика».
Досвід роботи:
- 2012-2013 рр. Луганський національній університет імені Тараса Шевченка, старший викладач.
- 2013-2014 рр. Луганський національній університет імені Тараса Шевченка, філія Інституту економіки промисловості НАН України, науковий співробітник.
- 2014-2016 рр. Державний університет телекомунікацій, доцент.
- 2014-2018 рр. Інститут економіки промисловості НАН України, старший науковий співробітник.
- З 2016 р. Київський національний університет імені Тараса Шевченка, асистент.
Наукові праці:
Більше 34 наукових праць, серед яких 4 статті у журналах, що індексуються міжнародною наукометричною базою Scopus, 2 наукові доповіді, 16 статей у фахових виданнях України, 12 тез доповідей на конференціях. Індекс Гірша в Scopus – 1, у Google Scholar – 3.
Профілі:
Публікації, що індексуються у Scopus або Web of Science:
– Tikhii, A.A., Nikolaenko, Y.M., Zhikhareva, Y.I., Zhikharev, I.V. Spectral and X-Ray Studies of Indium Oxide Films on Sapphire Substrates, Optics and Spectroscopy, 2020, 128(10), pp. 1667–1670. (переглянути)
– Tikhii, A.A., Nikolaenko, Y.M., Kornievets, A.S., …Zhikhareva, Y.I., Zhikharev, I.V. Modeling Transition Layers at Boundaries of Thin-Film Coatings Using Ellipsometric Measurements, Journal of Applied Spectroscopy, 2020, 86(6), pp. 1053–1057. (переглянути)
– Tikhii, A.A., Nikolaenko, Y.M., Gritskih, V.A., …Zhikhareva, Y.I., Zhikharev, I.V. Accounting for the Complex Surface Structure in Ellipsometric Studies of the Effects of Magnetron Sputtering Modes on the Growth and Optical Properties of In2O3 Films, Journal of Applied Spectroscopy, 2018, 85(1), pp. 149–154. (переглянути)
– Tikhii, A.A., Nikolaenko, Y.M., Zhikhareva, Y.I., Kornievets, A.S., Zhikharev, I.V. Influence of the Thermal Conditions of Fabrication and Treatment on the Optical Properties of In2O3 Films, Semiconductors, 2018, 52(3), pp. 320–323. (переглянути)
– Tikhii, A.A., Nikolaenko, Y.M., Zhikhareva, Y.I., Zhikharev, I.V. Optical Characteristics of Thin Films of In2O3 and ITO, Journal of Applied Spectroscopythis link is disabled, 2016, 83(3), pp. 478–480. (переглянути)
– Zhykharyeva, Y., Pratsiovytyi, M. Expansions of numbers in positive lüroth series and their applications to metric, probabilistic and fractal theories of numbers, Algebra and Discrete Mathematics, 2012, 14(1), pp. 145–160. (переглянути).
Наукові інтереси:
Теорія ймовірностей та математична статистика, фрактальний аналіз.